60周年
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成果類別 科專研發
產出年度 105
計畫名稱 關鍵影響因子量測技術與設備開發
技術類別 電能管理晶片設計與機電系統整合
搭配推廣專利
技術現況敘述 搭配空氣微量測試儀、PC_base即時控制及自動定位治具等技術的整合，開發出電磁閥微量洩漏量測技術，提供國內電磁閥產品檢測的解決方案(Total solution)。
技術規格 1. 可量測氣體微洩漏量(<10cm3/min) 2. 可量測的氣壓極限達15bar 3. 可依樣品更換治具，檢測程序自動化
可移轉技術名稱(中) 電磁閥微量洩漏量測技術
可移轉技術名稱(英) The Micro Leak Measurement for Solenoid Valve
可應用範圍 閥體、車用零件
市場(產品/服務)潛力預估 以待測物需求設計自動定位治具，可廣泛應用至電磁閥、車用零組件、電子、生醫等產業
所需之主要軟硬體設備 LabView、Inventor、高壓儲氣模組、空氣測漏儀
總聯絡窗口 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
微量測漏機總組合圖

更新日期：108-03-18　/　維護單位：系統管理者
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