60周年
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專利名稱

殘留應力檢測裝置及其檢測方法
年度 111
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 美國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1111206~1301006
專利證號 US11,519,798 B2
摘要 為精準量測曲面鍍膜殘留應力量測數值之準確性與降低數值不確定性，本發明提供一種曲面鍍膜殘留應力量測裝置與方法，可運用於曲面鍍膜之應力量測。此裝置包含曲面至高點固定器與曲面鍍膜運算模組。量測工件放置於曲面高點固定器並固定於X-Ray繞射儀之載台，藉由X-Ray繞射儀量測曲面最高點應變值整合曲面鍍膜運算模組內的材料特性，計算殘留應力值。
特色 1.本專利現在以實驗室型X光繞射儀為量測載具，後續可將量測能力往外拓展至攜帶式X光繞射儀，達到現場量測即時分析之技術。
2.利用本專利所提出的量測模組，可克服曲面對於殘留應力之影響，解決幾何形狀造成數值誤差過大且無法有效量化等問題。
創造效益 1.本專利提出之量測模型，可適用於曲面形狀之鍍膜殘留應力量測，以解決現有量測技術無法精準量化曲面鍍膜殘留應力等問題。
2.利用本專利所提出的量測模型與曲面固定載台，亦可整合現今X光繞射儀器，以降低量測誤差、減少曲面影響因子，有效掌握幾何特性，突破殘留應力量測點於曲面形狀偏移造成的量測誤差。
市場資訊 1. 目前全球仍未有準確性非破壞曲面鍍膜殘留應力檢測技術。
2. 現階段非破壞殘留應力量測技術發展主要為量測設備改良、殘留應力運算模組優化、殘留應力影響因素排除、鍍膜應力簡易性量測等，尚未於曲面鍍膜殘留應力進行著墨。
3. 技術特徵與優勢說明：
(1) 可應用於各式X光繞射儀之殘留應力檢測設備，包含實驗室型與攜帶型，適用於精密量測與現場快速分析，協助鍍膜各領域的殘留應力分析件立即時分析改善技術。
(2) 突破目前曲面鍍膜殘留應力之技術瓶頸：曲面鍍膜殘留應力誤差大與無法量化等問題。
(3) 目前國際檢測設備大廠無相關產品，產業卻多有此需求，故在此技術的導入應用下，可針對曲面鍍膜協助進行壽命與失效分析。
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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