60周年
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專利名稱

硬脆材料之殘留應力檢測方法
年度 106
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1060501~1241208
專利證號 I580939
摘要 傳統鑽孔法針對難切削材料或耐磨耗的硬質層工件進行殘留應力量測時，容易造成刀具的嚴重磨耗並引進大量的額外應力，或者根本無法鑽孔。本專利以超音波鑽孔方式來解決傳統鑽孔法在對高硬度或脆性材料量測上的限制。量測並控制玻璃光學鏡片等脆硬材的殘留應力，可提高光學鏡片品質。
特色 本發明所提出的殘留應力檢測方法，具有下列效益：(1)確定脆硬材料的特性和殘留應力狀態。在檢測過程中，快速、無間斷檢測和記錄殘留應力狀況。(2)提高經濟效益，降低量測成本（減少刀具磨耗的耗材費用）。(3)對脆硬材原料可以有效檢查和控制。台灣精密光學元件2014年產值較2013年同期成長近20%，產值約達新台幣977億元。控制玻璃光學鏡片等脆硬材的殘留應力，可提高光學鏡片品質，預期產業效益極高。
創造效益 傳統鑽孔法針對難切削材料或耐磨耗的硬質層工件進行殘留應力量測時，容易造成刀具的嚴重磨耗並引進大量的額外應力，使此一鑽孔法量測殘留應力的檢測技術產生過大誤差，或者根本無法鑽孔。本專利乃是以AST ME837應變規鑽孔法量測殘留應力之標準測試規範為理論基礎，以超音波鑽孔方式來解決傳統鑽孔法在對高硬度或脆性材料量測上的限制。
市場資訊 隨著光學工業及光電科技的發展，各種光電元件依不同的需求孕育而生，光學鏡片 即為光電儀器系統中不可或缺的零組件。除了常見的天文望遠鏡與攝影機外，光學鏡片 在數位相機、雷射印表機、影印機及投影機等產品上的應用相當普遍，故市場對光學鏡片的品質與精度的要求愈來愈高。根據光電協進會(PIDA)統計，2014年台灣光電產業總產值達新台幣2.467兆元，換算約674億美元，佔有全球光電產業5,766億美元總產值約12%。其中產值排名前五大的產品分別為TFT-LCD面板、觸控面板、LCD元件材料、太陽電池及精密光學元件與鏡頭；至於產值高成長率的前五大產品，分別為LED照明、太陽能矽晶材料、精密光學元件與鏡頭、LED元件及光學治療。因此光學鏡片等脆硬材的殘留應力量測具有極高的市場應用性。
聯絡人 黃偉咸 電話 07-3513121分機 2365 
E-mail：vincent@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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