60周年
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專利名稱

非接觸式三維掃描系統及其方法
年度 106
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1060521~1241202
專利證號 I583919
摘要 以微透鏡掃描模組架構為基礎，結合複合式投射光源，進行單次擷取多目標物之焦深對焦影像，透過待測物其全景深清晰影像比對方式，使光源調變出最適合的波長組合，以提升形貌影像之特徵性，且搭配多軸向運動軌跡定位平台，以精密定位掃描模組至待測工件欲測的位置進行形貌量測，使得系統彈性自動化大幅提升，再透過量測的影像深度資料，及校正計算影像像素對應於實際空間的二維資料，以算出該欲測位置之三維空間點雲座標。此非接觸式掃描快速且非破壞量測之特點，以蒐集光線數據進行三維模型重建技術。
特色 1.利用波長組合概念提高打光效果，降低檢測/量測之誤判率。
2.利用單次擷取多層不同焦深影像方式，可大幅提升待測物三維形貌量測速度與效率，以提升應用市場面之效能。
3.建立高效能之量測關鍵模組技術，以縮短與先進國家廠商之技術差距，強化國際市場之競爭力。
創造效益 1.藉由可控制不同波段光源之打光技術，以提高待測物的影像對比與特徵性，亦即提升影像辨識度，可縮短整體的檢測/量測時間。
2.利用分析法則找出最佳的波長組合，比單一波長的光源更能提升形貌影像之特徵性，可針對不同材質之待檢物達到最適化量測之目的，提高三維形貌重建的準確性。
3.具非接觸式掃描快速且非破壞量測之特點，不需移動Z軸平台進行逐層深度掃描資訊，即可單次擷取多層不同焦深影像，且避免平台振動影響量測結果，以提升待測物三維形貌量測正確性與速率。
市場資訊 1
聯絡人 黃偉咸 電話 07-3513121分機 2365 
E-mail：vincent@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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