60周年
:::
專利名稱

異空間異尺寸基材對位方法
年度 106
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華人民共和國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1060721~1221217
專利證號 25691192
摘要 本發明係有關於一影像對位之設計與方法，是屬於一種異空間對位方式下並針對異尺寸材質貼合的對位方法設計，以達到應用於此技術之快速精密對位之目的。
此發明主要是在上下兩個不同尺寸基板相對應的兩側，分別架設兩組CCD，並藉由上下基板已知的尺寸變異量，修正目標基板的影像空間中的目標座標，然後經由幾何運算上下基板的影像座標誤差，計算出其直線方向與旋轉方向的偏移量，利用影像伺服閉迴路控制，達到異空間物件精密對位之目的，與習知方法不同的是不需建立影像座標系統與對位平台系統的座標複雜轉換關係，有效減少大量的數學計算與
特色 部份高科技產業在製程中常因材料的特殊性，在利用影像視覺輔助進行貼合、結合或組合時常會遭遇到異尺寸之對位物件無法於同一影像擷取裝置中進行影像對位的困擾，此發明專利提供一個解決方法，可確實解決在製程上無法將異尺寸基材進行精密對位貼合的問題。此專利技術將可應用於各式高科技產業中，例如觸控面板產業，在其多樣且異尺寸的多層貼合製程中，此方法可解決無法在異空間下異尺寸基材進行影像對位之情況，提昇製程的生產速度與彈性。
創造效益 1. 可進行異空間下之異尺寸基材對位偏差修正補償並續進行後製程(如：貼合)。
2. 不須建立影像座標系統與對位座標系統轉換，減少複雜的調機程序與座標計算。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
<