60周年
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專利名稱

用於干涉系統的自動對焦方法
年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030501~1191129
專利證號 I436033
摘要 本發明係關於一種用於干涉系統的自動對焦方法，其包括以下步驟：調整擷取一待測物影像之影像擷取位置，改變該參考元件與一待測物間之光程差，以改變干涉強度；依據不同之該等干涉強度計算每一影像擷取位置之待測物影像之相應功率值；及依據該等影像擷取位置之相應功率值計算該干涉系統的自動對焦位置。藉此，可節省成本、過濾影像雜訊的效果、簡化量測時間成本及提高準確度，且可廣泛的應用在物體三維形貌量測技術。
特色 本發明之用於干涉系統的自動對焦方法是應用於全域式識別影像序列中干涉條紋出現處與決定干涉條紋的掃瞄範圍，其不需統計每一待測物影像之對比度，僅針對垂直掃描干涉二維強度資料，即可計算出該干涉系統的自動對焦位置。
並且，本發明之用於干涉系統的自動對焦方法係直接處理影像資料，不需另外加裝感測器，故可節省成本，且於判斷干涉影像時，統計整張影像之資訊，具有過濾雜訊的效果，簡化量測時間成本及提高準確度。再者，本發明之用於干涉系統的自動對焦方法可廣泛的應用在物體三維形貌量測技術。
創造效益 本發明提供一種用於干涉系統的自動對焦方法，該干涉系統包括一參考元件，包括以下步驟：(a)調整擷取一待測物影像之影像擷取位置，改變該參考元件與一待測物間之光程差，以改變干涉強度；(b)依據不同之該等干涉強度計算每一影像擷取位置之待測物影像之相應功率值；及(c)依據該等影像擷取位置之相應功率值計算該干涉系統的自動對焦位置。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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