60周年
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專利名稱

角度量測系統
年度 105
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1050221~1191221
專利證號 I522597
摘要 一種角度量測系統，包含一干涉狀態產生單元、一光源單元，以及一接收分析單元；該干涉狀態產生單元包括多數對應一待測物成等角度地設置於以該待測物中心為圓心的一圓周線上的稜鏡，以及多數分別與每一稜鏡相對設置而能將通過稜鏡後的光反射的反射鏡，該光源單元能產生一可被分光行進至所述稜鏡的單頻同調光束，該接收分析單元能接收被每一反射鏡反射的光所形成的干涉狀態，並比對該待測物轉動前後的干涉狀態後進行運算而得到該待測物轉動的微角度變化量，本發明角度量測系統具有設置成本低、設置簡單、量測精度高等優點。
特色 降低成本、提高精度。
創造效益 本發明角度量測系統具有設置成本低、設置簡單、量測精度高等優點。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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