60周年
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專利名稱

用於測量捲對捲裝置之基材之傳送速度之裝置及其方法
年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030521~1181229
專利證號 I438433
摘要 本發明係有關於一種用於測量捲對捲裝置之基材之傳送速度之裝置及其方法，該裝置包含一光學感測模組、一處理模組及一監控模組，該方法係先由該光學感測模組偵測一基材之一變化量，依據該變化量得到一相對位移量訊號，並轉換該相對位移量訊號為一相對正交脈波訊號，且傳送至該處理模組進行運算分析，再傳送至該監控介面統計分析，最後得到一基材傳送速度。本發明之裝置主要利用一光學感測模組偵測基材移動之變化量，本發明之該光學感測模組具有低成本，可有效降低整體成本。
特色 (1)利用市售雷射滑鼠之光學感測模組，因感測模組功能規格與現行雷射感測器模組相當，且技術成熟以及取得方便。
(2)現有雷射測感測器價格昂貴且操作不易，本專利特色可大幅降低成本及安裝複雜度，具有市場潛力。
(3)雷射滑鼠之光學感測模組適用性不受基材表面與材料的影響，應用範圍廣。
創造效益 本專利技術主要創新特點有2點：
(1)模組架構為採用?射滑鼠中之光學組件(如CMOS CCD、雷射Diode等)整合微處理器軟硬體等設計技術，此架構除容易取得模組主要零組件外並可有效降低模組成本。
(2)光學感測模組量測時，利用滾輪邊緣測量法，不但可以克服軟板在傳送過程中，因軟性基材於滾輪與滾輪之間傳送時造成振動，這往往都會使得量測過程有誤，因此運用此測量法可有效提升量測之準確度。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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