60周年
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專利名稱

非接觸式光學複合量測方法及系統
年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030411~1181208
專利證號 I434021
摘要 一種非接觸式光學複合量測方法及系統，其系統包含一平行光發出裝置、一光學檢測裝置，及一影像處理裝置，其特色在於該光學檢測裝置具有一可調整光程差的參考面鏡，配合該影像處理裝置可同時得到一待測的試件的表面輪廓、變形量，與應變量，且該系統因光路徑無特殊的長度限制可縮小改良成攜帶式裝置，使該試件無需從原先裝設的位置拆卸而直接進行線上量測，省去拆卸時間並保持該試件的完整性，再依待測試件量測需求依照其方法進行量測，同時得到該試件的表面輪廓與變形量，或表面輪廓與變形量二者擇一量測。
特色 本光學量測系統可作為一獨立量測模組，可攜帶於所需量測之場合，針對不方便直接接觸之元件進行量測，待測物無須從原先已安置好之場合（如機台或車輛上）拆卸下來，可節省拆裝時間及保持試件之完整性，大幅提升量測之效率。
創造效益 1.對於不適宜碰觸試件表面之情況，可採取非接觸式之光學量測方法。
2.可同時進行試件表面輪廓以及變形量之量測。
3.可攜帶，架設容易。
4.光學量測方法可針對各種幾何外型與尺寸之待測元件，搭配不同倍數之光學鏡頭，以獲得較佳之量測結果。
5.光學量測方法由於其非接觸性，可針對各種幾何外型尺寸與材料特性之待測元件進行量測，只需試件表面為可反射性，即可進行量測。
6.光學量測之精度在未經數位影像處理前為1/4波長，達次微米之尺度。
7.利用數位影像處理技術，可大幅降低數位光斑所造成之雜訊，獲得品質較佳之干涉影像。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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