60周年
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專利名稱

工件輪廓的接觸式光學量測方法
年度 100
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1000921~1161224
專利證號 I349098
摘要 本發明是工件輪廓的接觸式光學量測方法，包含架設光源、偏光片、析光片，及影像擷取裝置的光學檢測系統架設步驟、將測試滾珠與工件放置在光學檢測系統中進行量測的待測工件放置步驟、擷取平面偏光場影像的影像擷取步驟、由偏光場影像計算測試滾珠與二輪廓面的量測接觸角的計算步驟，及由量測接觸角與設計工件時的接觸角比較得到工件的二輪廓面的精確度分析步驟。本發明利用測試滾珠與工件輪廓面接觸時產生的應力作用平面偏光場影像，而在不虞與工件產生破壞性接觸的狀況下，快速且精密的量測得到工件輪廓的精確度。
特色 本發明的功效在於提供一種利用雙折射材料在極化光場中會出現等傾線的偏光場影像，計算等傾線的重疊點位置而得到待測工件的接觸角，進而計算出待測工件的精確度，而可真實、即時地量測得知工件輪廓的精確度。
創造效益 本發明之目的，即在提供一種應用極化光場的變化，可以快速進行精密量測、且可以同時於生產加工線上進行的工件輪廓的接觸式光學量測方法。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
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