60周年
:::
專利名稱

自動對焦量測裝置
年度 101
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1010301~1161223
專利證號 I359279
摘要 一種自動對焦量測裝置,其包含一定位平台、一定位座、一影像擷取單元、一鏡片組、一光學感測單元及一照明單元。該定位平台可供放置一待測物體,該定位座設置於該定位平台之一側,以供結合該影像擷取單元、鏡片組、光學感測單元及照明單元,該鏡片組設置於該影像擷取單元及定位平台之間,該光學感測單元係發出一雷射光束且透過該鏡片組感測該待測物體之位置,該照明單元係發出一照明光束且透過該鏡片組照射該待測物體,以便該影像擷取單元擷取該待測物體之清晰影像。藉此,使該雷射光束及照明光束可位於一同軸光路。
特色 本專利所揭露之光學檢測對焦技術為一低成本、高精度之自動對焦系統。
創造效益 本專利所揭露之光學檢測對焦技術為一低成本、高精度之自動對焦系統。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：106-02-15　/　維護單位：系統管理者
<