60周年
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專利名稱

光學影像擷取模組、對位元方法及觀測方法
讓與公告年度 113
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華人民共和國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1050323~1221029
專利證號 ZL201310522035.7
摘要     本創作係一種影像顯像模組與方法，可同時觀測相異空間之影像於一CCD或影像擷取裝置，用以達到單一影像空間顯像之目的，並可藉由光源波長之選擇方式，分別對單側影像或同時對異側物件進行影像處理之目的。
    此發明主要由四只直角稜鏡搭配光學鍍膜或濾鏡組成一顯像模組，並以二組與光濾波範圍互相匹配之窄波光源模組，透過光源的切換，可選擇所需成像的空間位置，分別或同時觀測異空間之影像資訊並進行影像分析處理，可有效應用於異空間之對位系統，降低因影像擷取空間的不同所造成之誤差，並提高對位精度之方法。
特色     在各項精密產業的發展上，機器視覺被大量採用作為精密定位與對位之用，產業上的對機器視覺模組的使用上，對於空間的限制與精度的要求也越趨重要，此發明專利提供一種顯像方法和模組，可有效縮小所需之光學元件體積，和快速切換所需觀測之單一影像光路等優點。可用於對精密對位與定位有需求之產業，如觸控面板、IC電子接合等，提供其高穩定性的影像顯像方式，降低機械運動控制上的誤差，提昇產業的製程技術、生產速度及產品良率。
創造效益 1. 可提供一對稱之光路路徑，有助於縮小影像模組元件體積之餘，並將達到一對稱之可視空間距離，且兩側影像對比性將達成一致等多個特點。
2. 可提供一快速切換光路之機制，不需實體快門元件，且相較於傳統機械或電子液晶式的快門(shutter)時間較短，且控制方式簡單。
3. 用於影像對位中，可有效提高其對位精度，減少光學與機械元件組裝所造成之誤差。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：112-08-04　/　維護單位：系統管理者
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