60周年
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專利名稱

具有橢圓曲面構造之光學量測輔助器及光學量測系統
讓與公告年度 113
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1040301~1201229
專利證號 I475204
摘要 本發明是一種具有橢圓曲面構造之光學量測輔助器及光學量測系統，所述光學量測系統包含該光學量測輔助器與光學量測儀器，該光學量測輔助器主要係利用一內有橢圓球形內反射曲面之第一反射腔體，或於第一反射腔體一端串接一有內有橢圓球形內反射曲面之第二反射腔體，或是，另以一橢圓球體部份之內反射橢圓曲面被驅動旋轉而形成一虛擬橢圓球形內反射曲面等設計，利用橢球形反射曲面可直接反射一發光點之全角度光線至光學量測儀器，使其可以快速完成量測，且量測時可提供全反射之光路，不會有像差問題，且不論光源入射角度的大小，皆可不需移動偵測，而能對待測物量測所需的光學特性。
特色 藉由本發明改善現有光學量測作業費實的問題。
創造效益 本發明是關於一種光學量測系統，尤指該光學量測系統中之具有橢圓曲面構造的光學量測輔助器及包含該光學量測輔助器之光學量測系統。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：112-08-04　/　維護單位：系統管理者
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