60周年
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專利名稱

檢測光源的選用方法及其系統
讓與公告年度 110
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華人民共和國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1010328~1180616
專利證號 ZL200910149655.4
摘要 本發明係揭露一種檢測光源之選用方法及其系統,此系統包含一光源驅動模組、一掃瞄模組以及一推論模組。檢測光源之選用方法係由光源驅動模組提供複數個測試光源投射於一待測物上;由掃瞄模組對待測物線形掃瞄形成對應該等測試光源之複數影像;推論模組記錄有待測物的缺陷資料,並根據一分析法則將各影像與缺陷資料比對以產生對應各影像的品質分數,以從各品質分數分析並挑選出最適用於檢測待測物的檢測光源。
特色 本發明的目的係在於提供一種可應用於不同產線，且能取得最適用於檢測待測物的投射光源的選用系統與選用方法。
創造效益 一種檢測待測物之掃瞄光源選用系統，特別是指一種具選出最適用於當前待測物進行檢測作業的檢測光源之選用方法及其系統。
市場資訊
聯絡人 金屬工業研究發展中心 羅政副組長 
Tel: 07-3513121轉2366, Fax: 07-3534062
E-mail ：judylo@mail.mirdc.org.tw
更新日期：112-08-04　/　維護單位：系統管理者
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