60周年
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專利名稱

孔洞表面形貌量測系統及方法
年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030221~1201229
專利證號 I427266
摘要 一種孔洞表面形貌量測系統，用於量測一試件之一孔洞的表面形貌，並包含一光發射模組、一光學透鏡模組、一影像擷取模組、一影像處理模組，及一運算處理模組。藉由該光學透鏡模組能深入於該孔洞中，並改變該光發射模組所發出之入射光束方向成為可探測該孔洞表面的探測光，並進一步產生相互干涉的第一、第二參考光。然後再透過該影像擷取模組擷取干涉影像，並傳送到該影像處理模組進行進一步的影像處理以得到較清晰之影像後，最後利用該運算處理模組來計算干涉條紋序數，而能得到孔洞表面的形貌。
特色
創造效益 一種孔洞表面形貌量測系統，用於量測一試件之一孔洞的表面形貌，並包含一光發射模組、一光學透鏡模組、一影像擷取模組、一影像處理模組，及一運算處理模組。藉由該光學透鏡模組能深入於該孔洞中，並改變該光發射模組所發出之入射光束方向成為可探測該孔洞表面的探測光，並進一步產生相互干涉的第一、第二參考光。然後再透過該影像擷取模組擷取干涉影像，並傳送到該影像處理模組進行進一步的影像處理以得到較清晰之影像後，最後利用該運算處理模組來計算干涉條紋序數，而能得到孔洞表面的形貌。
市場資訊
聯絡人 黃偉咸 電話 07-3513121分機 2365 
E-mail：vincent@mail.mirdc.org.tw
維護單位：系統管理者
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