60周年
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專利名稱

貫孔量測方法
年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030321~1191221
專利證號 I431244
摘要 一種貫孔量測方法，包含一架設步驟、一校準步驟、一實測步驟，及一分析步驟。該架設步驟是架設一能產生一發散光束的光源單元與一影像接收單元。該校準步驟以該發散光束穿過一基準貫孔並配合該影像接收單元量測該基準貫孔以取得多數基準干涉影像。該實測步驟是以與該校準步驟相同的方式測量一貫穿深度與該基準貫孔相同的待測貫孔，並取得多數實測干涉影像。該分析步驟再將每一基準干涉影像與實測干涉影像進行比對運算，得到該待測貫孔內壁面相對該基準貫孔內壁面的變化量。能實際量測貫孔內的狀態且快速地量測出該待測貫孔內壁面的平整度。
特色 本發明之目的，即在提供一種建構成本低、操作簡單的貫孔量測方法。
創造效益 1.高精度之孔徑角度變化量測精度 (0.3μm)。
2.非接觸式之量測，避免刮傷或移動待測物之問題。
3.可進行不同位置之孔徑變化量測，同時測量真圓度及直度。
4.使用之數位影像處理技術，可有效降低環境所造成之影響，增加影像之能見度(visibility)。
市場資訊
聯絡人 黃偉咸 電話 07-3513121分機 2365 
E-mail：vincent@mail.mirdc.org.tw
維護單位：系統管理者
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