60周年
專利名稱

顆粒篩選裝置

年度 103
狀態 獲證維護中
獲證編號
類別 發明
申請國家 中華民國
專利權人 金屬中心
專利起訖 1030121~1200825
專利證號 I424083
摘要 本發明係關於一種顆粒篩選裝置,設置於一靶源及一被鍍物之間,用以篩選來自該靶源之粒子,其包括:複數個間隔部及一驅動裝置。相鄰間隔部之間具有一設定距離,每一個間隔部具有一設定厚度。該驅動裝置用以驅動該等間隔部移動,該等粒子於該等間隔部之間移動,部分該等粒子穿過該等間隔部至該被鍍物,部分該等粒子留置於該等間隔部。因此,利用該設定厚度及該設定距離與移動速率搭配,可以有效地篩選鍍覆於被鍍物之該等粒子之顆粒大小。並且,本發明之顆粒篩選裝置之結構較小,易安裝,故可降低設備成本。
特色 本發明之顆粒篩選裝置之結構較小,易安裝,故可降低設備成本。
創造效益 利用該設定厚度及該設定距離與移動速率搭配,可以有效地篩選鍍覆於被鍍物之該等粒子之顆粒大小。
市場資訊 本技術可用於真空鍍膜相關領域,降低設備投資成本,並且提昇原材料使用率,並有機會替代現有過濾系統。
聯絡人 黃偉咸 電話 07-3513121分機 2365 
E-mail:vincent@mail.mirdc.org.tw
維護單位:系統管理者
<